先端ナノ計測施設(ANCF)

機関名 産業技術総合研究所(AIST)
施設名 先端ナノ計測施設(ANCF)
施設概要 ANCFは特に産総研で開発した先端計測分析機器を公開し、研究開発現場等における課題解決に貢献することを目指しています。
開発した先端計測分析機器や技術の高度化を図ると共にアプリケーション例を増やす等して、先端計測分析機器や技術の社会普及を促進します。代表的な分析機器として次の装置を備えております。
・軽元素のXAFS測定(S-XAFS)
・欠陥イメージング(陽電子欠陥測定装置)
・巨大分子質量測定(超伝導検出器質量分析装置)
・物性測定(ナノ・ピコ秒分光装置)

詳しくは次のページをご参照ください。
先端計測分析機器の公開

企業・公設試・大学等教育機関の皆様のご利用をお待ちしていますので、ぜひお気軽にご相談・ご利用下さい。

利用方法 お申し込み方法
施設ウェブサイト 先端機器共用イノベーションプラットフォーム 先端ナノ計測施設(ANCF)
問合せ先 国立研究開発法人産業技術総合研究所
TIA推進センター共用施設運営ユニット共用施設ステーション
〒305-8568 茨城県つくば市梅園1-1-1
つくば中央第2事業所 2-12棟
TEL:029-861-3210
FAX:029-861-3211
Email:tia-kyoyo-ml[@]aist.go.jp
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備考