高エネルギー加速器研究機構(KEK)の装置一覧

施設名 装置名称/手法 仕様 用途
フォトンファクトリー(PF) 溶液用小角散乱(酵素回折計)(BL-10C) X線エネルギー:8 keV溶液散乱の測定では、溶液試料用の標準セルホルダーが整備されている。二次元大面積イメージングプレート自動読み取り式検出器R-AXIS VII(Rigaku)一次元...

タンパク質・酵素溶液などの液体試料を用いたX線小角散乱実験。
タンパク質の溶液中のコンフォメーション及び機能時のコンフォメーション変化、高分子構造転移の評価など。

フォトンファクトリー(PF) X線小角散乱(BL-6A) X線エネルギー:8 keVハイブリッドピクセル検出器(PILATUS)CCD検出器装置の詳細に関しましては次のリンク先をご参照ください。http://pfweis.kek.jp/~saxs/http://pfwww.kek....

微小粒子、合金、生体試料などの数ナノメートルレベルでの構造の解析、評価

フォトンファクトリー(PF) 水平型四軸回折計(BL-14A) 垂直ウィグラーを光源とし、垂直に偏光した5 keVから80 keVという広いエネルギー領域のX線を取り出すことができる。18 keV以下のエネルギー領域では、水平型四軸回折計による精...

水平型四軸X線回折計と高計数率APD検出器による微小単結晶の精密構造解析や高エネルギーX線用検出器の開発および評価

フォトンファクトリー(PF) 多目目的極限条件下ワイセンベルグカメラ(BL-8A, BL-8B) X線エネルギー:5 – 21 keVリガク製イメージングプレート(IP)回折計装置の詳細に関しましては次のリンク先をご参照ください。http://cmrc.kek.jp/beamlines/bl-8a/http...

高圧、低温の極限条件下での強相関電子系物質、有機導体の相転移などの構造的研究。
1.フーラレン、ナノチューブの構造と相転移機構の研究
2.スピンパイエルス相転移の外場依存性の研究
3.MEMによる電子密度レベルでの構造研究
4.遷移金属酸化物の電荷・軌道の秩序状態の研究など

フォトンファクトリー(PF) 六軸X線回折計(BL-3A, BL-4C) 回折計の仕様から、結晶の逆格子空間を広く走査する結晶構造解析的な実験よりは、 温度・圧力・磁場などの外場条件を変えながら、逆格子空間の一部を 高分解能・高精度で測定す...

精密X線回折・散乱実験
物性と関連する長周期構造の観測
3d電子系、4f電子系の共鳴X線散乱
表面回折
磁場中X線回折実験

フォトンファクトリー(PF) X線吸収分光法(XAFS)(BL-9A, BL-9C, BL-12C, NW2, NW10A) X線エネルギー:2.1 – 42 keV蛍光XAFS実験用19素子半導体検出系(BL-12C)装置の詳細に関しましては次のリンク先をご参照ください。http://pfwww.kek.jp/nomura/pfxafs/ind...

透過法、蛍光法、転換電子収量法、(蛍光)全反射法を用いたX線吸収分光法(XAFS)による試料の評価

フォトンファクトリー(PF) タンパク質結晶構造解析(BL-1A, BL-5A, BL-17A, NE3A, NW12A) X線エネルギー:4.5 – 17 keV装置の詳細に関しましては次のリンク先をご参照ください。http://pfweis.kek.jp/~protein/index.htmlhttp://pfweis.kek.jp/~protein/gallary...

タンパク質微小結晶のX線結晶構造解析
単結晶X線構造解析、振動写真法、多波長異常分散(MAD)法、単波長異常分散(SAD)法