微小部蛍光X線分析装置(ORBIS PC)

機関 物質・材料研究機構(NIMS)
施設名 材料分析ステーション(MAS)
メーカー
型式 ORBIS PC
用途

1.金属・セラミックスなど各種試料の非破壊分析、2.微小部の定性定量分析、3.前処理が不要、4.凹凸のあるサンプルでも測定可能(最大7mm)、5.フィルタ(7種)使用で微量分析が可能。

仕様(特徴・詳細)

X線照射部⇒1.マイクロフォーカスRh管球:50kV-1mA、2.ポリキャピラリー30μm、3.7種自動交換フィルタ、4.WD7mm以上、検出器⇒1.SSD検出器(液体窒素レス)、2.測定範囲:Na~U、試料室⇒1.雰囲気制御(真空・大気)、2.X-Y-Zモーター駆動ステージ、3.大型試料(最大サイズ:270x270x100mm)、4.デュアルCCD(10倍、75倍、3倍ズーム)

①ポリキャピラリーにより1次X線を微小部に照射でき、高感度分析。②試料室が大きいので試料をそのまま導入できる。③真空雰囲気による軽元素の検出感度が向上。④オフラインでのデータ解析が可能。

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問合せ先

chukaku[@]nims.go.jp(お問合せ頂く際は[ ]を外して下さい)

技術開発・共用部門事務統括室

TEL029-860-4939

〒305-0047つくば市千現1-2-1

備考
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