ゼータ電位&粒径測定装置

機関 物質・材料研究機構(NIMS)
施設名 微細加工プラットフォーム(NFP)
メーカー
型式
用途

動的光散乱による、微粒子の解析、微粒子の物性評価、

仕様(特徴・詳細)

粒径:0.6nm~8μm、ゼータ電位:-200~+200mV、

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問合せ先

chukaku[@]nims.go.jp(お問合せ頂く際は[ ]を外して下さい)

技術開発・共用部門事務統括室

TEL029-860-4939

〒305-0047つくば市千現1-2-1

備考
施設画像
検索キーワード ゼータ電位 粒径 動的光散乱 微粒子