実動環境対応電子線ホログラフィー電子顕微鏡(JEM-ARM200F-B)

機関 物質・材料研究機構(NIMS)
施設名 微細構造解析プラットフォーム(NMCP)
メーカー 日本電子
型式 JEM-ARM200F
用途

超高分解能TEM/STEM、EDS(Dual-SDD-EDS)、EELS(GIF)、電子線ホ口グラフイー、様々な環境下でのその観察(高温:~1,200℃、ガス雰囲気、バイアス印加など。)

仕様(特徴・詳細)

照射レンズ系、結像レンズ系のそれぞれに収差補正機能を搭載し、超高分解能(0.8nm)を実現すると共に、試料ホルダーを利用して様々な実動作環境におけるその場観察・分析・ポテンシャル計測を可能にした透過電子顕微鏡です。

冷陰極電子銃により低加速でも高分解能STEMが可能。加速電圧は60, 80, 200 kV。

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問合せ先

NIMS微細構造解析プラットフォーム推進室
〒305-0047 茨城県つくば市千現1-2-1
TEL:029-859-2139
E-mail:acnp[@]nims.go.jp
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備考

微細構造解析プラットフォーム(NMCP)

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