走査電子顕微鏡(JEM-7000F)

機関 物質・材料研究機構(NIMS)
施設名 微細構造解析プラットフォーム(NMCP)
メーカー 日本電子(株)
型式 JSM-7000F
用途

試料サイズ、材質の制約が少なく、汎用性の高い走査電子顕微鏡。EDSシステムにより、元素分析や元素マップを得ることができる。

仕様(特徴・詳細)

サーマルFEGを装備した走査電子顕微鏡(最小絞りのまま高倍率観察からEDS分析、EBSD解析が可能)。EDSシステム装備。加速電圧:0.5~30kV。試料サイズ、材質の制約が少なく、汎用性が高い。

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問合せ先

NIMS微細構造解析プラットフォーム推進室
〒305-0047 茨城県つくば市千現1-2-1
TEL:029-859-2139
E-mail:acnp@nims.go.jp

備考

微細構造解析プラットフォーム

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