300kV電界放出形透過電子顕微鏡(FEI Tecnai G2 F30)

機関 物質・材料研究機構(NIMS)
施設名 微細構造解析プラットフォーム(NMCP)
メーカー FEI Company
型式 FEI Tecnai G2 F30
用途

TEM/STEM, EDS等

仕様(特徴・詳細)

300kV透過電子顕微鏡。TEM、STEM、EDS、エネルギーフィルター、ローレンツ顕微鏡法が可能。

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問合せ先

NIMS微細構造解析プラットフォーム推進室
〒305-0047 茨城県つくば市千現1-2-1
TEL:029-859-2139
E-mail:acnp@nims.go.jp

備考

微細構造解析プラットフォーム

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