実動環境対応物理分析電子顕微鏡(JEM-ARM200F-G)

機関 物質・材料研究機構(NIMS)
施設名 微細構造解析プラットフォーム(NMCP)
メーカー 日本電子(株)
型式 JEM-ARM200F
用途

超高分解能TEM/STEM、EDS(Single-SDD-EDS)、EELS、電子線ホ口グラフイー、3D観察、電子線トモグラフィー、様々な環境下でのその観察(高温:1,200℃、低温:~-160℃、ガス雰囲気、光照射、バイアス印加など)。

仕様(特徴・詳細)
照射レンズ系、結像レンズ系のそれぞれに収差補正機能を搭載し、超高分解能(0.08nm)を実現すると共に、試料ホルダーを利用して様々な実動作環境におけるその場観察・分析・ポテンシャル計測・3D観察を可能にした透過電子顕微鏡。
ショットキーFEG。
加速電圧:80, 120, 200kV。
詳細リンク先 詳しくはこちらをご覧下さい
問合せ先

NIMS微細構造解析プラットフォーム推進室
〒305-0047 茨城県つくば市千現1-2-1
TEL:029-859-2139
E-mail:acnp@nims.go.jp

備考

微細構造解析プラットフォーム

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