可変偏光軟X線分光装置(BL-16A)

機関 高エネルギー加速器研究機構(KEK)
施設名 フォトンファクトリー(PF)
メーカー
型式 放射光実験ステーション(挿入光源ビームライン)BL-16A超電導電磁石XMCD測定装置常伝導電磁石XMCD測定装置深さ分解XMCD測定装置共鳴軟X線散乱装置
用途

Fe、Co、Niなどの3d遷移金属のL吸収端におけるX線吸収分光法(XAFS)やX線共鳴散乱(XRS)において、磁気円二色性(MCD)や磁気線二色性(MLD)の測定、および直線偏光依存XAFSに波長分散型XAFS法を組み合わせることによって固体表面における化学反応の実時間追跡

仕様(特徴・詳細)

利用可能放射光エネルギー
円偏光: 297 – 1000 eV
水平直線偏光:180 – 1500 eV
垂直直線偏光:380 – 1500 eV
楕円偏光:218 – 1500 eV
これらの偏光モードおよびエネルギーは、実験中随時変更が可能

装置の詳細に関しましては次のリンク先をご参照ください。
BL-16A 可変偏光軟X線分光ステーション

詳細リンク先 詳しくはこちらをご覧下さい
問合せ先

KEK TIA推進室
〒305-0801
つくば市大穂1-1
Tel: 029-879-6281 Fax: 029-864-4602
E-mail: tia@ml.post.kek.jp

備考
施設画像
検索キーワード 磁性材料 表面・界面分析 薄膜・多層膜 X線吸収分光 X線磁気円二色性 表面化学反応