X線吸収分光法(XAFS)(BL-9A, BL-9C, BL-12C, NW2, NW10A)

機関 高エネルギー加速器研究機構(KEK)
施設名 フォトンファクトリー(PF)
メーカー
型式 放射光実験ステーションBL-9A、BL-9C、BL-12C、NW2、NW10A
用途

透過法、蛍光法、転換電子収量法、(蛍光)全反射法を用いたX線吸収分光法(XAFS)による試料の評価

仕様(特徴・詳細)

X線エネルギー:2.1 – 42 keV
蛍光XAFS実験用19素子半導体検出系(BL-12C)

装置の詳細に関しましては次のリンク先をご参照ください。
http://pfwww.kek.jp/nomura/pfxafs/index.html
http://pfwww.kek.jp/users_info/station_spec/xafsbl/9a/bl9a.html
http://pfwww.kek.jp/users_info/station_spec/xafsbl/9c/bl9c.html
http://pfwww.kek.jp/users_info/station_spec/xafsbl/12c/bl12c.html
http://pfwww.kek.jp/users_info/station_spec/xafsbl/nw2a/nw2a.html
http://pfwww.kek.jp/users_info/station_spec/xafsbl/nw10a/nw10a.html

詳細リンク先 詳しくはこちらをご覧下さい
問合せ先

KEK TIA推進室
〒305-0801
つくば市大穂1-1
Tel: 029-879-6281 Fax: 029-864-4602
E-mail: tia@ml.post.kek.jp

備考

BL-15A1建設中

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検索キーワード X線吸収分光 XAFS XANES 局所構造 電子状態 触媒 電池 環境