超伝導検出器搭載イオン価数弁別二重収束質量分析装置

機関 産業技術総合研究所(AIST)
施設名 先端ナノ計測施設(ANCF)
メーカー 自作
型式
用途

二重収束質量分析装置

仕様(特徴・詳細)

イオンの運動エネルギー測定が可能な超伝導分子検出器を搭載した、二重収束質量分析装置。
衝突反応セルを装備し、MS/MSが可能。
運動エネルギー測定により、中性フラグメントを再イオンすることなく分析できる。
●イオン源 EI、FAB、CI
●運動エネルギー測定により、イオンの価数を測定できる。例えば、N+とN22+(m/z=14)を分離して分析可能。
●MS/MS分析において、異なる中性フラグメントを再イオン化することなく分析。

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問合せ先

産業技術総合研究所
つくばイノベーションアリーナ推進本部
共用施設調整室
〒305-8568 茨城県つくば市梅園1-1-1つくば中央第2事業所
つくば本部・情報技術共同研究棟9階
TEL: 029-862-6592
FAX: 029-862-6048
E-mail :ibec_info-ml[@]aist.go.jp
(メールでお問い合わせ頂く際は[ ]を外してメールしてください)

備考

・冷却: 冷媒必要

施設画像
検索キーワード 質量分析 中性フラグメント 電荷交換反応 衝突解離反応 ETD CID CAD Nb/Al STJ