超伝導検出器搭載SSLD MALDI TOF質量分析装置

機関 産業技術総合研究所(AIST)
施設名 先端ナノ計測施設(ANCF)
メーカー 自作
型式
用途

飛行時間型質量分析装置

仕様(特徴・詳細)

ナノ秒時間分解能を有する超伝導ナノストリップ分子検出器(SSLD)を搭載した、飛行時間型質量分析装置。
抗体中のフラグメント、多量体やその他の巨大な分子の測定に適している。
ナノ秒時間分解能と分子量に依存しないフラットな検出感度で、イオンカウンティングにて、数え落としのない質量スペクトルの測定が可能。
●イオン源 MALDI
●イオンカウンティング (50 M cps)
●質量範囲1,000 – 500,000(フラットな検出感度)
●質量分解能 最高1,000(リニアモード、BSA 66.4 kDaにて)

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問合せ先

産業技術総合研究所
つくばイノベーションアリーナ推進本部
共用施設調整室
〒305-8568 茨城県つくば市梅園1-1-1つくば中央第2事業所
つくば本部・情報技術共同研究棟9階
TEL: 029-862-6592
FAX: 029-862-6048
E-mail :ibec_info-ml[@]aist.go.jp
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備考
施設画像
検索キーワード 質量分析 中性フラグメント MALDI PSD 巨大質量測定 Nb SSID 高質量分解能