計測用装置群:F7の装置一覧

機関名 施設名 装置名称/手法 仕様 用途
物質・材料研究機構(NIMS) 微細構造解析プラットフォーム(NMCP) 単原子分析電子顕微鏡(FEI Titan Cubed) 照射レンズ系、結像レンズ系のそれぞれに収差補正機能を搭載、電子銃はモノクロメータ電子銃を装備。TEM/STEMで世界最高分解能を実現。単色ビームによる高エネルギー分解能EELS...

超高分解能TEM/STEM観察

物質・材料研究機構(NIMS) 微細構造解析プラットフォーム(NMCP) 実動環境対応物理分析電子顕微鏡(JEM-ARM200F-G) 照射レンズ系、結像レンズ系のそれぞれに収差補正機能を搭載し、超高分解能(0.08nm)を実現すると共に、試料ホルダーを利用して様々な実動作環境におけるその場観察・分析・ポテ...

超高分解能TEM/STEM、EDS(Single-SDD-EDS)、EELS、電子線ホ口グラフイー、3D観察、電子線トモグラフィー、様々な環境下でのその観察(高温:1,200℃、低温:~-160℃、ガス雰囲気、光照射、バイアス印加など)。

物質・材料研究機構(NIMS) 微細構造解析プラットフォーム(NMCP) 300kV電界放出形透過電子顕微鏡(FEI Tecnai G2 F30) 300kV透過電子顕微鏡。TEM、STEM、EDS、エネルギーフィルター、ローレンツ顕微鏡法が可能。

TEM/STEM, EDS等

物質・材料研究機構(NIMS) 微細構造解析プラットフォーム(NMCP) 原子識別電子顕微鏡(JEM-3100FEF) インカラムオメガフィルターおよび、EDSを備えた、300kV分析電子顕微鏡。軽元素から重元素まで、幅広い元素に対して、高分解能元素分布像の取得が可能。

インカラムオメガフィルターおよび、EDSを備えた、300kV分析電子顕微鏡。軽元素から重元素まで、幅広い元素に対して、高分解能元素分布像の取得が可能。

物質・材料研究機構(NIMS) 微細構造解析プラットフォーム(NMCP) 冷陰極電界放出形ローレンツ顕微鏡(HF-3000L) 300kV冷陰極電界放出形電子銃を備えた、ローレンツ像観察用専用電子顕微鏡。極低温条件で磁区観察可能。通常のTEMモードで電子回折図形や明視野暗視野像の観察も可能。

ローレンツ像の観察ができます。また専用ホルダーにより、極低温条件で、ローレンツ観察が可能です。

物質・材料研究機構(NIMS) 微細構造解析プラットフォーム(NMCP) 冷陰極電界放出形電子顕微鏡(HF-3000S) 300kV冷陰極電界放出形電子銃を備えた透過電子顕微鏡。TEM ,EELSの計測が可能。

TEM, EELS

物質・材料研究機構(NIMS) 微細構造解析プラットフォーム(NMCP) 200kV電界放出形透過電子顕微鏡(JEM-2100F1) 200kV透過電子顕微鏡。TEM、STEM、EDSが可能。電子線回折も取れるCCDカメラ装備。

200kV透過電子顕微鏡。TEM、STEM、EDSが可能。電子線回折も取れるCCDカメラ装備。

物質・材料研究機構(NIMS) 微細構造解析プラットフォーム(NMCP) 200kv透過電子顕微鏡(JEM-2100) 200kV透過電子顕微鏡。TEM、EDSが可能。電子線回折も取れるCCDカメラ装備。

200kV透過電子顕微鏡。TEM、EDSが可能。電子線回折も取れるCCDカメラ装備。

物質・材料研究機構(NIMS) 微細構造解析プラットフォーム(NMCP) 実動環境対応電子線ホログラフィー電子顕微鏡(JEM-ARM200F-B) 照射レンズ系、結像レンズ系のそれぞれに収差補正機能を搭載し、超高分解能(0.8nm)を実現すると共に、試料ホルダーを利用して様々な実動作環境におけるその場観察・分析・ポテン...

超高分解能TEM/STEM、EDS(Dual-SDD-EDS)、EELS(GIF)、電子線ホ口グラフイー、様々な環境下でのその観察(高温:~1,200℃、ガス雰囲気、バイアス印加など。)

物質・材料研究機構(NIMS) 微細構造解析プラットフォーム(NMCP) 200kV電界放出形透過電子顕微鏡(JEM-2100F2) 200kV透過電子顕微鏡、TEM、STEM、EDSが可能。電子線回折もとれるCCDカメラ装備。

200kV透過電子顕微鏡、TEM、STEM、EDSが可能。電子線回折もとれるCCDカメラ装備。