計測用装置群:C7の装置一覧

機関名 施設名 装置名称/手法 仕様 用途
産業技術総合研究所(AIST) ナノプロセシング施設(NPF) X線回折装置(XRD) 試料形状やそれぞれの測定目的に応じて適切な光学系を容易に切り替え構築出来る高精度の粉末X線回折装置です。集中法、平行ビーム法切替入射光学系“クロスビームオプティクス”を...

構造解析

高エネルギー加速器研究機構(KEK) フォトンファクトリー(PF) 六軸X線回折計(BL-3A, BL-4C) 回折計の仕様から、結晶の逆格子空間を広く走査する結晶構造解析的な実験よりは、 温度・圧力・磁場などの外場条件を変えながら、逆格子空間の一部を 高分解能・高精度で測定す...

精密X線回折・散乱実験
物性と関連する長周期構造の観測
3d電子系、4f電子系の共鳴X線散乱
表面回折
磁場中X線回折実験

高エネルギー加速器研究機構(KEK) フォトンファクトリー(PF) 水平型四軸回折計(BL-14A) 垂直ウィグラーを光源とし、垂直に偏光した5 keVから80 keVという広いエネルギー領域のX線を取り出すことができる。18 keV以下のエネルギー領域では、水平型四軸回折計による精...

水平型四軸X線回折計と高計数率APD検出器による微小単結晶の精密構造解析や高エネルギーX線用検出器の開発および評価

高エネルギー加速器研究機構(KEK) フォトンファクトリー(PF) X線イメージング装置(単色X線投影法、単色X線CTなど)(BL-14B, BL-14C, NE7A) X線エネルギー:7 – 70 keV白色X線(BL-14C、NE7A)CCD検出器ハイブリッドピクセル検出器(PILATUS)装置の詳細に関しましては次のリンク先をご参照ください。BL-14BBL-1...

X線吸収イメージング法、位相イメージング法による試料の非破壊評価、非破壊検査、産業材料の評価、医学応用など

物質・材料研究機構(NIMS) 材料分析ステーション(MAS) 高速・高感度型粉末X線回折装置(SmartLab3) 1.X線発生装置:最大出力3.0kW、2.X線波長:CuKα、3.X線検出器:1次元型半導体式、4.試料部:試料水平型

定性分析、定量分析、結晶化度評価、結晶子サイズ/格子歪評価、格子定数の精密化、Rietveld解析など

 

物質・材料研究機構(NIMS) 材料分析ステーション(MAS) 簡易型粉末X線回折装置(MiniFlex600) 1.X線発生装置:最大出力0.6kW、2.X線波長:CuKα、3.X検出器:1次元型半導体式、4.試料部:試料水平型

定性分析、定量分析、結晶化度評価、結晶子サイズ/格子歪評価、格子定数の精密化、Rietveld解析など

 

物質・材料研究機構(NIMS) 材料分析ステーション(MAS) 高輝度・高感度型粉末X線回折装置(SmartLab) 1.高輝度X線発生装置:最大出力9kW、2.X線波長:CuKα1、3.X線検出器:高性能1次元型半導体式、4.試料部:試料水平型 

定性分析、定量分析、結晶化度評価、結晶子サイズ/格子歪評価、格子定数の精密化、Rietveld解析など

物質・材料研究機構(NIMS) 材料分析ステーション(MAS) 温度可変型粉末X線回折装置(SmartLab with cryostat/furnace) 高輝度X線発生装置:最大出力9kW、X線波長:CuKα1、高性能1次元型半導体検出器、試料部:試料水平型、低温装置:2.6K~室温(真空)、高温装置:室温~1500℃(空気、He、N2、O2...

定性分析、定量分析、結晶化度評価、結晶子サイズ/格子歪評価、格子定数の精密化、Rietveld解析など