計測用装置群:C2の装置一覧

機関名 施設名 装置名称/手法 仕様 用途
産業技術総合研究所(AIST) ナノプロセシング施設(NPF) エックス線光電子分光分析(XPS)装置 エックス線光電子分光分析(XPS)装置・X線源 Rowland 円直径 500 mm モノクロメータ付Al Kα (1486.6 eV)・光電子分光器 軌道半径165 mm静電二重半球型アナライザー/球面鏡アナラ...

エックス線光電子分光分析(XPS)

産業技術総合研究所(AIST) ナノプロセシング施設(NPF) 微小部蛍光X線分析装置(XRF) 型式:SEA5120A・分析元素:Na~U、Si(Li)半導体検出器(LN2冷却)、RhX線管励起、上部垂直照射・コリメータ:φ0.1;1;2.5 mm、最大試料サイズ:80 x 80 x 35 (mm)、試料形態:固形;薄...

計測

産業技術総合研究所(AIST) ナノプロセシング施設(NPF) X線回折装置(XRD) 試料形状やそれぞれの測定目的に応じて適切な光学系を容易に切り替え構築出来る高精度の粉末X線回折装置です。集中法、平行ビーム法切替入射光学系“クロスビームオプティクス”を...

構造解析

高エネルギー加速器研究機構(KEK) フォトンファクトリー(PF) 軟X線2結晶分光装置(BL-11B) X線エネルギー:1.7 – 5 keV通常のX線ステーションでは利用困難な低エネルギー領域の分光研究が可能。装置の詳細に関しましては次のリンク先をご参照ください。BL-11B ...

Si、P、S、Clなど軽元素のEXAFS測定が可能。
XAFS測定等に用いる簡単なもの以外は、原則として試料槽は持ち込みが必要。

高エネルギー加速器研究機構(KEK) フォトンファクトリー(PF) 軟X線斜入射回折格子分光装置(BL-11A) 利用可能放射光エネルギー:70 – 1900 eV幅広いエネルギー領域にわたって利用が可能装置の詳細に関しましては次のリンク先をご参照ください。BL-11A 軟X線斜入射回折格...

C、N、O、F、Na、Mg、Alなど軽元素のEXAFSスペクトル測定が可能であるとともに多くのPF内実験装置を連結することも可能

高エネルギー加速器研究機構(KEK) フォトンファクトリー(PF) 可変偏光軟X線分光装置(BL-16A) 利用可能放射光エネルギー円偏光: 297 – 1000 eV水平直線偏光:180 – 1500 eV垂直直線偏光:380 – 1500 eV楕円偏光:218 – 1500 eVこれらの偏光モード...

Fe、Co、Niなどの3d遷移金属のL吸収端におけるX線吸収分光法(XAFS)やX線共鳴散乱(XRS)において、磁気円二色性(MCD)や磁気線二色性(MLD)の測定、および直線偏光依存XAFSに波長分散型XAFS法を組み合わせることによって固体表面における化学反応の実時間追跡

高エネルギー加速器研究機構(KEK) フォトンファクトリー(PF) 表面化学研究用真空紫外軟X線分光装置(BL-13A, BL-13B) 放射光エネルギー:30 – 1600 eV光電子分光装置(SES-200,Scienta)、試料作製用超高真空装置、有機試料蒸着用超高真空装置、試料加熱冷却面内回転トランスファー機構を...

角度分解紫外光電子分光、高分解能内殻光電子分光、高分解能軟X線吸収分光を中心とした表面化学の研究

高エネルギー加速器研究機構(KEK) フォトンファクトリー(PF) 高分解能可変偏光真空紫外・軟X線利用実験装置(BL-28B) 放射光エネルギー:30 – 300 eV装置の詳細に関しましては次のリンク先をご参照ください。BL-28B  高分解能可変偏光真空紫外・軟X線ビームライン

光電子顕微鏡、原子・分子分光実験などのユーザ持ち込み装置での実験に対応

高エネルギー加速器研究機構(KEK) フォトンファクトリー(PF) 高分解能角度分解光電子分光実験装置(BL-28A) 高分解能角度分解光電子分光実験ステーションは、Gammadata Scienta製電子 分析器SES-2002を中心としたシステム(CCDカメラはデジタル取り込みにアッ プグレード済)(図8)で...

高温超伝導体や巨大磁気抵抗マンガン酸化物に代表される強相関物質のフェルミ面、バンド分散、準粒子構造を直接的に観測

高エネルギー加速器研究機構(KEK) フォトンファクトリー(PF) 機能性材料解析装置(BL-2B) 放射光エネルギー:30 – 4000 eV装置の詳細に関しましては次のリンク先をご参照ください。BL-2B 機能性材料解析ステーション

表面・界面物性、機能性材料、環境材料などの評価・開発研究など

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