計測用装置群:C1の装置一覧

機関名 施設名 装置名称/手法 仕様 用途
産業技術総合研究所(AIST) ナノプロセシング施設(NPF) X線回折装置(XRD) 試料形状やそれぞれの測定目的に応じて適切な光学系を容易に切り替え構築出来る高精度の粉末X線回折装置です。集中法、平行ビーム法切替入射光学系“クロスビームオプティクス”を...

構造解析

高エネルギー加速器研究機構(KEK) フォトンファクトリー(PF) 超高圧実験装置(AR-NE1A) X線エネルギー:10 – 50 keV単色X線装置の詳細に関しましては次のリンク先をご参照ください。AR-NE1A for X-Ray Diffraction and Mössbauer Spectroscopy Experiments at ...

ダイヤモンドアンビルセルを用いた超高圧・低温下でのX線構造解析。
レーザー加熱による地球の下部マントルからコアに迫る超高圧・超高温条件下での物質のふるまい。

高エネルギー加速器研究機構(KEK) フォトンファクトリー(PF) 軟X線2結晶分光装置(BL-11B) X線エネルギー:1.7 – 5 keV通常のX線ステーションでは利用困難な低エネルギー領域の分光研究が可能。装置の詳細に関しましては次のリンク先をご参照ください。BL-11B ...

Si、P、S、Clなど軽元素のEXAFS測定が可能。
XAFS測定等に用いる簡単なもの以外は、原則として試料槽は持ち込みが必要。

高エネルギー加速器研究機構(KEK) フォトンファクトリー(PF) 軟X線斜入射回折格子分光装置(BL-11A) 利用可能放射光エネルギー:70 – 1900 eV幅広いエネルギー領域にわたって利用が可能装置の詳細に関しましては次のリンク先をご参照ください。BL-11A 軟X線斜入射回折格...

C、N、O、F、Na、Mg、Alなど軽元素のEXAFSスペクトル測定が可能であるとともに多くのPF内実験装置を連結することも可能

高エネルギー加速器研究機構(KEK) フォトンファクトリー(PF) 可変偏光軟X線分光装置(BL-16A) 利用可能放射光エネルギー円偏光: 297 – 1000 eV水平直線偏光:180 – 1500 eV垂直直線偏光:380 – 1500 eV楕円偏光:218 – 1500 eVこれらの偏光モード...

Fe、Co、Niなどの3d遷移金属のL吸収端におけるX線吸収分光法(XAFS)やX線共鳴散乱(XRS)において、磁気円二色性(MCD)や磁気線二色性(MLD)の測定、および直線偏光依存XAFSに波長分散型XAFS法を組み合わせることによって固体表面における化学反応の実時間追跡

高エネルギー加速器研究機構(KEK) フォトンファクトリー(PF) X線イメージング装置(トポグラフィー)(BL-20B) X線エネルギー:7 – 25 keVイメージングプレート装置の詳細に関しましては次のリンク先をご参照ください。http://pfwww.kek.jp/users_info/station_spec/bl20/bl20b.html

X線回折像による試料(表面)の構造評価、半導体材料の評価など

高エネルギー加速器研究機構(KEK) フォトンファクトリー(PF) X線イメージング装置(単色X線投影法、単色X線CTなど)(BL-14B, BL-14C, NE7A) X線エネルギー:7 – 70 keV白色X線(BL-14C、NE7A)CCD検出器ハイブリッドピクセル検出器(PILATUS)装置の詳細に関しましては次のリンク先をご参照ください。BL-14BBL-1...

X線吸収イメージング法、位相イメージング法による試料の非破壊評価、非破壊検査、産業材料の評価、医学応用など

高エネルギー加速器研究機構(KEK) フォトンファクトリー(PF) 高圧実験装置(AR-NE5C, AR-NE7A) X線エネルギー:25 – 100 keV白色X線装置の詳細に関しましては次のリンク先をご参照ください。AR-NE5C 高温高圧実験ステ-ションAR-NE7A X線イメージングおよび高温高圧...

高温、高圧下でのX線構造解析やイメージング。
地球下部マントル環境での物質のふるまい。

高エネルギー加速器研究機構(KEK) フォトンファクトリー(PF) 時分割実験装置(NW14A) X線エネルギー:5 – 25 keV時間分解能:100ピコ秒程度装置の詳細に関しましては次のリンク先をご参照ください。http://pfwww.kek.jp/adachis/NW14/NW14.htm

X線回折、X線散乱、X線吸収による高速現象の解析、評価

高エネルギー加速器研究機構(KEK) フォトンファクトリー(PF) 溶液用小角散乱(酵素回折計)(BL-10C) X線エネルギー:8 keV溶液散乱の測定では、溶液試料用の標準セルホルダーが整備されている。二次元大面積イメージングプレート自動読み取り式検出器R-AXIS VII(Rigaku)一次元...

タンパク質・酵素溶液などの液体試料を用いたX線小角散乱実験。
タンパク質の溶液中のコンフォメーション及び機能時のコンフォメーション変化、高分子構造転移の評価など。

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